• 详细信息

    半导体分立器件测试仪基础配置:

    技术参数

    ENJ2005-B型

    主极电流

    100nA-50A

    扩展电流

    100A、500A、1000A、1300A

    电压分辨率

    1mV

    电流分辨率

    1nA(可扩展至10pA)

    测试精度

    0.2%+2LSB

    测试速度

    0.5mS/参数

    半导体分立器件测试仪

    是专为测试半导体分立器件和大功率半导体模块器件而研发设计。它具有十分丰富的编程软件和强大的测试能力,能够真实准确测试以下类型的半导体器件以及相关器件组成的组合器件、器件阵列: 

     

     

     

    序号

     

    测试元件类别

     

    别称

    1

                        二极管

    DIODE

    2

      晶体管       

     TRANSISTOR(NPN型/PNP型)

    3

    J型场效应管

    J-FET

    4

    MOS场效应管  

    MOS-FET

    5

    双向可控硅

    TRIAC

    6

    可控硅

    SCR

    7

    绝缘栅双功率晶体管

    IGBT

    8

    硅触发可控硅

    STS

    9

    达林顿阵列

    DARLINTON

    10

    光电耦合

    OPTO-COUPLER

    11

    继电器

    RELAY

    12

    稳压、齐纳二极管

    ZENER

    13

    三端稳压器

    REGULATOR

    14

    光电开关

    OPTO-SWITCH

    15

    光电逻辑

    OPTO-LOGIC

    16

    金属氧化物压变电阻

    MOV

    17

    固态过压保护器

    SSOVP

    18

    压变电阻

    VARISTOR

    19

    双向触发二极管

    DIAC

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