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详细信息
半导体分立器件测试仪基础配置:
技术参数
ENJ2005-B型
主极电流
100nA-50A
扩展电流
100A、500A、1000A、1300A
电压分辨率
1mV
电流分辨率
1nA(可扩展至10pA)
测试精度
0.2%+2LSB
测试速度
0.5mS/参数
半导体分立器件测试仪
是专为测试半导体分立器件和大功率半导体模块器件而研发设计。它具有十分丰富的编程软件和强大的测试能力,能够真实准确测试以下类型的半导体器件以及相关器件组成的组合器件、器件阵列:
序号
测试元件类别
别称
1
二极管
DIODE
2
晶体管
TRANSISTOR(NPN型/PNP型)
3
J型场效应管
J-FET
4
MOS场效应管
MOS-FET
5
双向可控硅
TRIAC
6
可控硅
SCR
7
绝缘栅双功率晶体管
IGBT
8
硅触发可控硅
STS
9
达林顿阵列
DARLINTON
10
光电耦合
OPTO-COUPLER
11
继电器
RELAY
12
稳压、齐纳二极管
ZENER
13
三端稳压器
REGULATOR
14
光电开关
OPTO-SWITCH
15
光电逻辑
OPTO-LOGIC
16
金属氧化物压变电阻
MOV
17
固态过压保护器
SSOVP
18
压变电阻
VARISTOR
19
双向触发二极管
DIAC
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